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            當前位置:首頁產品中心光學測量儀器觀察儀/觀察鏡

            • FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調光通比 C-mount接口)(觀察儀)

              FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調光通比 C-mount接口)(觀察儀) 應用: 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。 ? 可用于紅外光學系統*。

              更新時間:2024-12-09
              產品型號:
              瀏覽量:638
            • FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) (觀察儀)

              FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) (觀察儀) 應用: 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。 ? 可用于紅外光學系統*。

              更新時間:2024-12-09
              產品型號:
              瀏覽量:636
            • FS70Z 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 固定光通比50/50 C-mount) (觀察

              FS70Z 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 固定光通比50/50 C-mount) (觀察鏡) 特點 采用Mitutoyo遠場校正鏡頭 三端輸出設計可輕松接收視頻 轉盤可接最多四個物鏡

              更新時間:2024-12-09
              產品型號:
              瀏覽量:611
            • FS70L4-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x管鏡頭 C-mount帶開關)  (觀察鏡)

              FS70L4-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x管鏡頭 C-mount帶開關) (觀察鏡) 應用: 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

              更新時間:2024-12-09
              產品型號:
              瀏覽量:691
            • WLTL-100-1490-PM-3.03倍紅外觀察鏡 1700nm 分辨率 60lp/mm

              3倍紅外觀察鏡 1700nm 分辨率 60lp/mm 紅外觀察鏡是將觀測物體所反射或發射的光聚焦到攝像管里而進行觀測的。電子攝像管是根據光譜發射強度和陰極材料的 S-1 光譜靈敏性而選制的。它通過持續按住儀器上的按鈕來提供所需電源。一旦加上電壓,內置的3V 電池產生16-18KV 的高壓,足以加速電子攝像管中的電子至觀測屏。輸出的綠色的熒光(波長550nm)可以通過調整目鏡看到。

              更新時間:2025-01-20
              產品型號:WLTL-100-1490-PM-3.0
              瀏覽量:847
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