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產品中心光學測量儀器光束/光斑質量分析儀WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀
WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀
產品簡介
product
產品分類| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組成要素 | 半導體激光器產品及設備 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 化工,建材,電子 |
WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀
WinCamD UHR / XHR非常適合任何激光束輪廓分析應用。像素尺寸低至3.2μm，適合于光束。UCD系列都具有全局域快門，使其成為脈沖激光束輪廓分析的優秀選擇。 軟件功能齊全，可高度定制，且不收取許可費用，無限制安裝和免費軟件更新。它非常適合以下應用：CW和脈沖激光輪廓分析；激光系統的現場服務；光學組件；儀器對準；光束漂移和記錄；研發; OEM集成；質量控制和可用M2DU平臺進行M2測量。
特點
355-1150 nm(標準)，335-1350nm，
1480-1605nm(UHR)，190-1150nm(XHR)
S-WCD-UHR ：1280 x 1024，6.6 x 5.3 mm， 5.2 µm
S-WCD-XHR ：2048 x 1536， 6.5 x 4.9 mm，3.2 µm
USB 2.0接口;
25,000：1電子自動快門，40 µs至1000 ms
1,000：1 SNR（30/60 dB光學/電氣）
M2選項–光束傳播分析，發散，聚焦
應用
CW 激光輪廓
激光器和基于激光器的系統的現場服務
光學組件和儀器對準
使用可用的M2DU平臺進行M2測量
WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀
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